折射率（refractive index）通常用n表示，它是材料对光的折射能力的度量。如图，如果i是真空中光线的入射角（入射光线与法线之间的角度），r是折射角（光线与法线之间的角度），折射率n定义为入射角正弦与折射角正弦之比；即
n = sin i / sin r。
折射率也等于真空中给定波长的光速 c除以其在某物质中的速度v，即
n = c / v。
在一个材料中，光波会引起电子的振动。不同材料的电子云密度不同，电子对光的反应能力也就不同。材料的电子云密度越大，电子对光的反应能力越强，光在材料中传播的速度就越慢，因此折射率就越大。
为什么要测薄膜的折射率？
1，不同材料有着不同的折射率。通过测量折射率，我们可以定性确定薄膜的材料组成。
以下是一些常见薄膜材料的折射率：
硅（Si）：折射率约为3.5
硅二氧化（SiO2）：折射率约为1.46
氮化硅（Si3N4）：折射率约为2，
磷硅酸盐玻璃（PSG），1.45-1.47，根据磷含量
铝（Al）：折射率约为1.5
铂（Pt）：折射率约为2.2
上述折射率值大致给出了在特定波长下的折射率，实际上，折射率与光的波长，温度，压力也有关。
2，通过对透明物质折射率的测量，可以推导出薄膜的厚度。因为薄膜的厚度直接影响了光的干涉模式，而干涉模式又可以通过测量光的反射和透射光谱来得到。
3，测量薄膜的折射率可以为评估薄膜的质量提供重要的信息。在理想情况下，特定的薄膜材料在特定的生产条件下应具有预期的折射率。如果实际测量的折射率与预期的折射率相差很大，这可能意味着生产过程中出现了问题。此外，薄膜的折射率的均匀性也是一个重要的质量指标。如果折射率在薄膜的不同位置有大的变化，可能意味着薄膜的厚度或成分在不同位置不均匀，这可能影响到薄膜在电子设备中的性能。
芯片生产中的薄膜的折射率如何测量？
薄膜的折射率一般通过光谱椭圆偏振仪（Spectroscopic Ellipsometry）或者反射/透射光谱仪（Spectrophotometer）来测量。
